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基礎信息Product information
產品名稱：日本日置HIOKI阻抗分析儀IM3570
產品型號：
更新時間：2025-06-07
產品簡介：
日本日置HIOKI阻抗分析儀IM3570實現LCR測量、DCR測量、掃描測量等的連續(xù)測量和高速檢查，LCR模式下Z快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速測量，基本精度±0.08%的高精度測量，適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測量，電感器（線圈、變壓器）的DCR和L-Q的測量
產品特性Product characteristics
專業(yè)儀器設備與測試方案供應商——上海堅融實業(yè)有限公司JETYOO INDUSTRIAL & 堅友（上海）測量儀器有限公司JETYOO INSTRUMENTS，為原安捷倫Agilent產品技術支持工程師-堅JET和吉時利KEITHLEY產品技術應用工程師-融YOO于2011年共同創(chuàng)辦的以技術支持為特色的代理貿易公司，志在破舊立新！*進口儀器設備大多廠家僅在國內設銷售點，技術支持薄弱或沒有，而代理經銷商也只專做銷售，不專業(yè)做售前技術答疑/測試方案，不專業(yè)做售后使用培訓/維修校準的空白。我們的技術銷售工程師均為本科以上學歷，且均有10年以上測試行業(yè)經驗，以我們*進*的經營理念，專業(yè)為祖國用戶提供儀器設備、測試方案、技術培訓、維修計量服務，為上海華東地區(qū)一家以技術為導向的儀器設備綜合服務商。
元器件測量儀器（電感、電容、電阻測量）
日本日置HIOKI阻抗分析儀IM3570性能特點
1臺儀器實現不同測量條件下的高速檢查
1臺儀器實現LCR測量、DCR測量、掃描測量等的連續(xù)測量和高速檢查
LCR模式下1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速測量
基本精度±0.08%的高精度測量
適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測量，電感器（線圈、變壓器）的DCR和L-Q的測量
分析儀模式下可進行掃頻測量、電平掃描測量、時間間隔測量
阻抗分析儀HIOKI IM3570|日本日置HIOKI主機不標配治具。請根據您的需求選擇選件中的治具和探頭。
日本日置HIOKI阻抗分析儀IM3570技術參數
測量模式 LCR（LCR測量），分析儀（掃描測量），連續(xù)測量
測量參數 Z、Y、θ、Rs（ESR）、Rp、Rdc（直流電阻）、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D（tanδ）、Q
測量量程 100mΩ~100MΩ，12檔量程（所有參數由Z確定）
顯示范圍 Z、Y、Rs、Rp、Rdc、X、G、B、Ls、Lp、Cs、Cp：±（0.000000[單位]~9.999999G[單位]，僅Z和Y顯示值
θ：±（0.000°~999.999°），D：±（0.000000~9.999999）
Q：±（0.00~99999.99），△%：±（0.0000%~999.9999%）
基本精度 Z：±0.08%rdg. θ：±0.05°
測量頻率 4Hz~5MHz（10mHz~100Hz步進）
測量信號電平 V模式，CV模式（普通模式）
50mV~1Vrms，1mVrms步進（1MHz以下）
10mV~1Vrms，1mVrms步進（1.0001MHz以上）
CC模式（普通模式）
10μA~50mA rms，10μA rms步進（1MHz以下）
10μA~10mA rms，10μA rms步進（1.0001MHz以上）
輸出阻抗 普通模式：100Ω，低阻抗高精度模式：10Ω
顯示 彩色TFT5.7英寸，可設置顯示ON/OFF
測量時間 0.5ms（100kHz，FAST，顯示OFF，代表值）
測量速度 FAST/MED/SLOW/SLOW2
其他功能 DC偏壓測量，比較功能，面板讀取和保存，存儲功能
接口 EXT I/O，RS-232C，GP-IB，USB通訊，U盤，LAN
電源 AC90~264V，50/60Hz，150VA
打印 拷貝測量值或屏幕顯示的要點（需用9442，9593-01和9446）
體積和重量 330W×119H×307Dmm，5.8kg
附件 電源線×1
日置HIOKI阻抗分析儀IM3570附件：治具，電纜，直流偏置，GP-IB，RS-232C接口，打印機
